一种CCD工作寿命预计方法

摘要：

介绍了一种适用于电荷耦合器件(CCD)的工作寿命预计方法.对CCD的失效模型进行了分析,并进行加速寿命试验,试验结果与理论分析结果较好地吻合.试验结果表明,对于一款成熟应用的GCD,其工作寿命值与其质量等级有直接的关系;质量等级越高的器件,其工作寿命值也越长.

关键词：电荷耦合器件、工作寿命、预计

所属期刊栏目：30

分类号：TN386.5(半导体技术)

在线出版日期：2012-08-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：49-52