“正方形”MLCC产品的DPA与无损检测

摘要：

对多层瓷介电容器(MLCC)产品进行超声波无损检测时,要求使MLCC的内电极平行于水平面放置.而对于那些无法知道内电极排列方向的“正方形”产品,就很容易漏检.而且,这类产品在做DPA检测时,无法正确地码放也成了一个问题—既浪费了样品又浪费了时间.因此,对于这类的MLCC产品,能够正确地辨认内电极排列的方向就显得至关重要.通过对MLCC进行超声波扫描与DPA的对比试验,找到了正确辨认内电极排列的方法,由此可以大大提高工作效率.

关键词：多层瓷介电容器、超声波扫描显微镜、破坏性物理分析

所属期刊栏目：30

分类号：TM534+.1(电器)

在线出版日期：2012-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：28-31