GaAs器件寿命试验及其方法比较

摘要：

本文介绍了加速寿命试验方法的理论基础,并针对GaAs器件慨述了几种常用的寿命试验方法及其数据处理模型,在阐述了加速寿命试验的实施过程后,对几种寿命试验方法进行了比较,并明确其各自的优缺点,指出研究既快速又准确的加速寿命测方法对于GaAs PHEMT器件的可靠性保证具有非常重要的意义.

关键词：GaAs、可靠性、加速寿命试验、寿命评估

所属期刊栏目：27

分类号：TP3;V24

在线出版日期：2009-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：80-85