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10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.013

国产晶体管的长期贮存可靠性

引用
测试了存贮24-37年的国产14种型号晶体管的输出特性.贮存37年的3DK7F 100只中,1只发生致命性失效;4只晶体管的共射极直流电流放大倍数hFE减小超规范失效,其最大退化率为-50%,年均退化率-1.35%.存贮29年的3DG101F,7只中有3只hFE的减小超过-30%,占该批晶体管43%,hFE最大退化从110减小到73,退化率为-34%.年均退化率-1.2%.存贮30年的J3AX54B hFE增加幅度最大,从120增加到134,增加了12%.年均增加0.4%.测试结果表明:在长期贮存中,晶体管的输出特性会发生退化;hFE值即有增加,也有减小.

晶体管、长期贮存、可靠性

27

TB24(工程设计与测绘)

2009-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

69-72

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电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

27

2009,27(z1)

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