10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.012
国产半导体器件长期贮存试验研究
本文通过对北方实验室条件下贮存25年的国产商用高频小功率晶体管进行研究.找到三种失效模式.考虑到现代技术可消除的因素(或已焊接使用),计算预计80年代的国产商用器件储存失效率水平小于10-7/h.
长期贮存、可靠性、失效率、HFE变化率、可焊性、水汽含量
27
TN3;F82
2009-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
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10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.012
长期贮存、可靠性、失效率、HFE变化率、可焊性、水汽含量
27
TN3;F82
2009-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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