电子元器件快速评价新方法的应用研究

摘要：

本文提出了电子元器件一种新的快速评价方法(CETRM),具有快速、准确、成本低、效率高等优点.能快速准确地确定元器件退化的失效敏感参数、退化机理;可对单样品求出与失效机理相应的失效激活能和寿命;通过多样品试验,可得到寿命分布、寿命加速特性和失效率等可靠性参数.以高频小功率管3DG130样品为例,通过验证实验和与现场数据对比,证明了新方法的正确和有效.本方法特别适用于失效率优于10-7/h(λ<10-7/h)产品的可靠性定量评价,其试验周期为传统方法的1/8.

机标关键词：电子元器件、评价新方法、失效率、样品试验、寿命分布、快速评价方法、可靠性参数、失效激活能、验证实验、小功率管、退化机理、数据对比、试验周期、失效机理、器件退化、敏感参数、加速特性、定量评价、传统方法、CETRM

所属期刊栏目：27

分类号：S15;TN3

在线出版日期：2009-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共11页

页码：47-57