10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.006
电子元器件的失效模型与可靠性试验方法浅析
本文介绍了电子元器件的失效类型、失效模型,并从元器件失效模型的角度简要分析了电子设备环境试验与可靠性试验的理论依据及原理.
失效模型、环境试验、可靠性试验
27
TM6;TE9
2009-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
33-38
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10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.006
失效模型、环境试验、可靠性试验
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TM6;TE9
2009-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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