10.3969/j.issn.1672-5468.2009.02.006
国外最新可靠性预计方法综述
在分析研究国外近几年发布的典型电子元器件及系统可靠性预计模型及数据手册--RIAC于2006年发布的217Plus以及IEC-TR-62380(2004年发布)的基础上,系统地介绍了两本预计手册中电子元器件和系统的可靠性预计模型和方法.
元器件、系统、可靠性预计、模型、方法
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O213.2(概率论与数理统计)
2009-05-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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