USB连接线端子产生锈蚀的机理

摘要：

通过对USB连接线中USB端子表面产生锈蚀机理的分析与试验验证,发现了导致USB锈蚀的主要机理是,壳外被覆的聚氯乙烯(PVC)塑胶层因其稳定性不理想,在高温高湿的环境条件下容易分解产生腐蚀性的氯化氢气体残存于USB壳的表面,并在空气中存在的氧气及水的共同作用下使其发生了腐蚀;当USB壳表面镀层存在缺陷或污染时,这种锈蚀愈发严重.针对锈蚀产生的机理给出了相应的控制对策.

关键词：锈蚀机理、通用串行总线、端子、表面镀层、聚氯乙烯

所属期刊栏目：26

分类号：TP336(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2009-03-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：20-24