长期存贮CCD的可靠性试验分析

摘要：

采用外部检查和气密性检测等试验方法,对长期存贮的电荷耦合器件(CCD)的质量进行评价.对失效原因进行了分析,进而提出了在CCD的封装、贮存和运输过程中,提高CCD可靠性的具体方法,可保证其贮存寿命在10年以上.

关键词：电荷耦合器件、外部检查、气密性检测、可靠性试验

所属期刊栏目：26

分类号：TN751.1(基本电子电路)

在线出版日期：2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：28-31