10.3969/j.issn.1672-5468.2008.01.004
电子产品无失效数据时的统计分析
在电子产品的可靠性寿命试验中,如果产品本身的质量很好,或者受试验时间和费用等条件的限制,则有可能出现"无失效数据"的情况.针对这种情况,引进失效信息,在先验分布为Gamma分布时,对失效率进行了多层Bayes估计,并结合实际问题进行了计算.
电子产品、无失效数据、指数分布、失效率、贝叶斯估计
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O212.8;TB114.3(概率论与数理统计)
2008-06-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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