10.3969/j.issn.1672-5468.2007.06.004
引线镀层材料不当造成塑封器件漏电失效
对漏电失效的塑封三极管,通过显微观察、去除异物前后的电性能对比分析、能谱成分分析等技术手段,揭示了因引线镀层材料采用不当引起银迁移致使器件漏电失效的失效模式及失效机理,并提出了相应的建议措施.
引线镀层、银迁移、漏电、失效
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2008-04-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
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10.3969/j.issn.1672-5468.2007.06.004
引线镀层、银迁移、漏电、失效
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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