砷化镓微波单片集成电路可靠性预计模型研究

摘要：

在对微波单片集成电路(MMIC)的失效模式和失效机理进行分析的基础上,提出了砷化镓微波单片集成电路(GaAs MMIC)的可靠性预计数学模型,并通过加速寿命试验确定了产品的基本失效率和预计模型温度系数πT.在大量统计工艺数据和文献数据的基础上,获得了可靠性预计模型中的其它系数.

关键词：微波单片集成电路、可靠性预计、寿命试验

所属期刊栏目：25

分类号：TN454.06(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2007-06-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：43-48