10.3969/j.issn.1672-5468.2006.03.005
低压功放IC特性异常现象的模拟分析
在分析某低压功放集成电路动能原理的基础上,针对该电路成品测试中出现的特性异常现象,结合原理分析,采用模拟仿真的方法,分析、再现异常现象,确定了导致特性异常的原因,并通过对PCM测试图形的测试,验证了分析结论.
肖特基二极管、模型参数、计算机模拟、PCM测试图形
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TN311+.7;TP391.9(半导体技术)
2006-07-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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