10.3969/j.issn.1672-5468.2005.04.010
工艺缺陷引起霍尔器件功能失效
通过对失效霍尔器件的分析,揭示了芯片金属电极脱边形成位移金属丝的工艺缺陷,导致桥接相邻内电极引起漏电或短路的失效机理.
霍尔器件、工艺缺陷、功能失效
23
TB114.3(工程基础科学)
2005-09-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
36-38
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10.3969/j.issn.1672-5468.2005.04.010
霍尔器件、工艺缺陷、功能失效
23
TB114.3(工程基础科学)
2005-09-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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