10.3969/j.issn.1672-5468.2004.05.017
2003年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文摘要(5)
@@ 2003年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文74.超薄氧化中击穿传导路径的缺陷生成引发磨损的证据(Evidence for Defect-Generation-DrivenWear-out of Breakdown Conduction Path in UltraThin Oxides)-2003 International ReliabilityPhysics Symposium pp.424-431.
可靠性物理、年会、文集、论文、传导路径、氧化中、证据、缺陷、磨损、超薄
TB1;S85
2004-12-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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