10.3969/j.issn.1672-5468.2004.04.014
CMOS存储器IDD频谱图形测试
通过对CMOS存储器IDD频谱图形测试过程的介绍,测试及试验数据证实CMOS存储器IDD频谱图形测试是可行的.
互补金属氧化物半导体存储器、电源电流、频谱图形、测试向量、缺陷
TP333.5+2(计算技术、计算机技术)
国家重点实验室基金99 JS 03.7.1 ZS 0305
2004-09-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
50-52
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10.3969/j.issn.1672-5468.2004.04.014
互补金属氧化物半导体存储器、电源电流、频谱图形、测试向量、缺陷
TP333.5+2(计算技术、计算机技术)
国家重点实验室基金99 JS 03.7.1 ZS 0305
2004-09-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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