10.3969/j.issn.1672-5468.2004.01.005
双波透射技术在薄芯片无损检测中的应用
从传统的声学扫描技术在对薄芯片和多层结构检测时所表现的不足引入,主要阐述了双波透射技术在此领域应用的突出优势,介绍了双波透射技术的工作原理及其关键部件反射板的选取,以及双波透射技术的应用前景.
双波透射技术、超声波检测、无损梭测、反射板、薄芯片
TB551(声学工程)
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
20-23
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10.3969/j.issn.1672-5468.2004.01.005
双波透射技术、超声波检测、无损梭测、反射板、薄芯片
TB551(声学工程)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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