10.3969/j.issn.1672-5468.2004.01.004
基片焊接不良导致微波功率器件热烧毁
利用声学扫描检测技术,揭示了热烧毁的微波功率器件氧化铍陶瓷基片与底座金属散热片的焊接不良现象;通过对样品的研磨与剥离,验证了焊接界面存在大面积空隙的状况;分析了其失效机理,并提出了建议.
微波功率器件、界面空隙、热烧毁
TN12(真空电子技术)
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
15-19
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10.3969/j.issn.1672-5468.2004.01.004
微波功率器件、界面空隙、热烧毁
TN12(真空电子技术)
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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