10.3969/j.issn.1672-5468.2002.04.013
结构相似性原理在半导体集成电路检验中的应用
介绍了如何应用结构相似性程序对半导体集成电路的最终检验进行分组和试验,从而提高检验效率,降低检验成本.
结构相似性、集成电路、分组、检验方案
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
44-45
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10.3969/j.issn.1672-5468.2002.04.013
结构相似性、集成电路、分组、检验方案
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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