10.3969/j.issn.1672-5468.2002.03.014
半导体器件成品率的高低是产品质量与可靠性高低的"预示"
介绍了国外半导体器件成品率与可靠性之间关系的研究结果,提出了元器件成品率的高低,是产品质量与可靠性高低的"预示"这一观点.同时还对成品率损失的原因、影响产品质量和可靠性的原因进行了分析,为内建可靠性、提高产品的成品率、质量和可靠性提供参考.
电子元器件、工艺控制、成品率、质量、可靠性
O213.1(概率论与数理统计)
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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