10.3969/j.issn.1672-5468.2002.01.008
电子元器件破坏性物理分析中几个难点问题的分析
通过对电子元器件破坏性物理分析(DPA)试验中遇到的几个难点问题的分析、讨论,强调了在DPA试验中对发现的问题和缺陷进行认真分析和评价的重要性.通过深入理解试验目的来灵活应用标准,可以使DPA试验的可操作性更强,更能准确、客观地反映元器件的固有可靠性水平.
电子元器件、破坏性物理分析、可靠性、氧化层缺陷
TN61/65(电子元件、组件)
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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