10.3969/j.issn.1672-5468.2002.01.007
IEEE 1149.1测试存取口与器件可测性同步的实现
提出了加强测试存取口(TAP)功能的一种方法,使之可以随两个时钟工作,一个用于控制与IEEE 1149.1标准相兼容的操作;另一个控制器件所固有的可测试特性.这个方法给设计和利用器件的可测性特性带来了许多优越性.
测试存取口、可测性设计、标准
TP306(计算技术、计算机技术)
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
27-29
点击收藏,不怕下次找不到~
10.3969/j.issn.1672-5468.2002.01.007
测试存取口、可测性设计、标准
TP306(计算技术、计算机技术)
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
27-29
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn