IEEE 1149.1测试存取口与器件可测性同步的实现

摘要：

提出了加强测试存取口(TAP)功能的一种方法,使之可以随两个时钟工作,一个用于控制与IEEE 1149.1标准相兼容的操作;另一个控制器件所固有的可测试特性.这个方法给设计和利用器件的可测性特性带来了许多优越性.

关键词：测试存取口、可测性设计、标准

分类号：TP306(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：27-29