二阶矩过程在大口径反射镜面形质量分析中的应用

摘要：

为了更好地评价大口径反射镜反射面面形,本文首先通过理论计算,得出了二阶矩过程的数字特征与结构函数(SF)、表面均方根(RMS)、斜率均方根(Slope RMS)之间的关系,得出以上3种常见的评价函数,皆为二阶矩过程数字特征的组合,以及后面两种评价函数都可以用结构函数表示的结论.然后对于结构函数的具体求解方法进行了讨论并对Zemi-ke多项式中的彗差、像散项的结构函数进行了分析;之后利用离散随机变量功率谱分析,讨论了二阶矩过程评价方法对于噪声的敏感程度以及Zemike多项式频谱能量分布;最后基于二阶矩过程的自回归性提出了一种评价反射镜面形的子孔径非相关拼接方法.

关键词：测量、面形评价、二阶矩过程、子孔径拼接

所属期刊栏目：28

分类号：TH751(仪器、仪表)

资助基金：国家863高技术研究发展计划2009AA8080603

在线出版日期：2014-03-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：97-103