屏蔽壳体上的"导线驱动孔径"电磁泄漏现象研究
采用有限元法,分析了在屏蔽壳体上的孔径中穿入导线时对电磁泄漏的影响情况,并给出了实测数据、等效电路模型和物理解释.与一般的孔缝泄漏情况不同,当孔径中央有导线穿过时,电磁能量泄漏现象显著增强.即使穿入的导线总长度相同,导线向屏蔽壳体内部延伸越多则泄漏越严重.若孔径中穿入的导线与壳体相接触则电磁泄漏现象比较复杂.孔径中穿入导线以后,其泄漏效果仿佛是向孔径中加入了一个泄漏驱动源,因此称为"导线驱动孔径".
孔缝泄漏、屏蔽效能、导体驱动孔径、有限元方法
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TP973.1
2007-10-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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