Multidrop连接模式下LVDS信号质量测试

摘要：

在BES3μ子鉴别器前端电子学中,数据传输采用LVDS信号标准.我们选择了两种LVDS芯片:SN65LVDS31和SN65LVDS32来进行测试.我们利用FPGA产生伪随机信号,并将其转换为LVDS信号,经过30米传输后,再返回至FPGA进行分析.由此对工作在multidrop模式下的LVDS信号传输质量进行了一系列测试,测试内容包括眼图、抖动和误码率.测试结果完全符合我们要求的指标,表明LVDS信号标准适合应用在我们所设计的电路中.

关键词：LVDS、multidrop、伪随机数据、误码率、眼图

所属期刊栏目：20

分类号：TM93

资助基金：北京市正负电子对撞机改造项目

在线出版日期：2006-06-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：56-59