基于粒子群算法的时序电路测试生成
本文论述了将粒子群算法应用在时序电路自动测试生成的研究结果.结合时序电路的特点,构造测试生成的粒子表达方式,建立自动测试生成离散粒子群速度-位置模型,通过群体中粒子间的合作与竞争产生的群体智能指导优化搜索.针对国际标准时序电路的验证结果表明,与同类算法相比,该算法可以获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集.
粒子群算法、自动测试生成、时序电路
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TM93
中国科学院资助项目60266001;广西新世纪十百千人才工程基金桂科自0542051
2006-04-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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