高速采样/保持放大器的孔径时间测定
本文从孔径时间的定义和影响因素出发,给出一种以欠采样技术为基础的测试方案,并在LTX公司的SynchroⅡ混合信号电路测试系统上加以实现,对AD公司的样片进行了测量.
S/H放大器、孔径时间、欠采样技术
14
TN7(基本电子电路)
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
32-34,64
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S/H放大器、孔径时间、欠采样技术
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TN7(基本电子电路)
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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