单通道双谱紫外放电图像量化分析方法

摘要：

为防止电晕放电带来的危害,需要对高压设备进行放电检测,采用日盲紫外成像法并利用开源计算机视觉库(OpenCV)对紫外图像量化分析,提取放电区域的量化参数,达到能量化分析放电量的目的.系统采用一种新的结构,利用单通道双谱紫外放电检测系统,其结构简单且成本较低;利用OpenCV相关函数,将紫外放电图像灰度化、二值化处理;采用一种自适应中值滤波(AMF-PDE)算法对放电图像进行滤波,提取了放电区域面积、周长等量化参数.最后进行对比实验,验证了放电量与光斑面积的正相关关系;同时,实验结果表明,观测距离与放电区域光斑面积呈幂函数关系.研究结果可作为一种新的方法来量化分析电器设备的放电量.

关键词：紫外成像法、OpenCV、单通道双谱、自适应中值滤波算法

所属期刊栏目：42

分类号：TN014(一般性问题)

资助基金：上海张江国家自主创新重点项目201310-PI-B2-008

在线出版日期：2019-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：133-137