基于SIFT算法的疵病图像配准
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.19651/j.cnki.emt.1802179

基于SIFT算法的疵病图像配准

引用
光学技术的发展对光学元件提出了更高的要求, 检测的精度和准确性是其重要的部分, 而疵病图像的配准是一个很重要的环节, 因此对疵病图像的配准进行研究很有必要.针对疵病图像配准算法进行了阐述, 并对基于特征点匹配的SIFT算法的原理及过程进行了介绍, 用MATLAB软件进行编程, 搭建实验平台获取疵病图像, 并采用尺度不变特征变换 (SIFT) 算法对所获取的疵病图像进行配准、拼接, 得到了完整的疵病图像.实验结果表明, 该算法能有效地对疵病图像进行配准, 为后续的疵病信息提取打下良好的基础.

疵病检测、疵病信息提取、特征点、图像配准、SIFT算法

42

TP391;TN06(计算技术、计算机技术)

2019-05-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

94-98

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子测量技术

1002-7300

11-2175/TN

42

2019,42(6)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn