下一代光传输系统DAC芯片动态性能测试方法
针对下一代光传输系统对数模转换器(DAC)高采样率、大带宽的要求,提出针对该类DAC动态性能的测试方法.通过分析光传输系统中DAC芯片的特点,解决了内部预设波形无法直接测量,采样时钟不能直接捕获,分辨率不易统计,差损的非线性导致带宽测量产生偏差等问题,并将该测试方法应用于国家高技术研究发展计划(863计划)“下一代光传输系统中高速模数转换(ADC)/数模转换(DAC)芯片和关键技术研究”项目的评测中.测试结果表明,该方法解决了最高采样率70 GSPS带宽16 GHz的超高速DAC测试中的一些关键问题,基本可以满足下一代400 Gbps光传输系统对DAC的动态性能测试要求.
数模转换器、光传输系统、增益补偿
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TN492(微电子学、集成电路(IC))
2019-04-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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