紧耦合MIMO系统SVA室内衰落信道容量分析

摘要：

近年来MIMO系统的天线日渐趋于小型化,随之而来的紧耦合效应成为影响信道容量的主要因素.首先介绍了SVA室内衰落信道模型的建模方法,其次给出了天线间的耦合效应产生的原理,最后将耦合效应带入信道模型中,并且分析其在丰富的多径情况下不同天线间距对信道容量的影响.仿真结果显示天线耦合效应会导致信道容量减少,并且天线间距越短,耦合效应对信道容量的影响越大.

关键词：紧耦合、SVA、室内衰落信道、容量

所属期刊栏目：40

分类号：TP3911;TN929.5(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2018-01-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：101-103,107