热电薄膜平面内热电性能测量技术

摘要：

介绍了一种测量热电薄膜平面内Seebeek系数和电导率一体化的测量装置.本装置可用于测量室温到300℃温度范围内薄膜材料平面内Seebeek系数和电导率,测量过程简单,测量成本低,且不会对薄膜造成损伤.实验证明,在薄膜两端沉积一层导电性好的铜膜后,该测量装置完全可以忽略接触电阻的影响,使得测量稳定性好,精度高,可满足纳米薄膜热电材料的Seebeck系数和电导率的一体化测量的要求.

关键词：热电薄膜、Seebeck系数、电导率

所属期刊栏目：32

分类号：TM913

在线出版日期：2009-10-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：62-65