10.3969/j.issn.1002-7300.2008.07.033
FLASH存储器的测试方法
随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长.FLASH芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片的测试要求也越来越高.本文介绍了FLASH存储器的基本结构和测试原理,特别是详细分析、研究了可应用于FLASH芯片的测试算法,对算法进行了部分改进与综合.测试实验表明,在与传统的棋盘格测试方法相同的故障覆盖率时,本方法的测试效率更高.
存储器测试、FLASH、测试图形
31
TN431.2(微电子学、集成电路(IC))
2008-12-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
117-120