FLASH存储器的测试方法

摘要：

随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长.FLASH芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片的测试要求也越来越高.本文介绍了FLASH存储器的基本结构和测试原理,特别是详细分析、研究了可应用于FLASH芯片的测试算法,对算法进行了部分改进与综合.测试实验表明,在与传统的棋盘格测试方法相同的故障覆盖率时,本方法的测试效率更高.

关键词：存储器测试、FLASH、测试图形

所属期刊栏目：31

分类号：TN431.2(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-12-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：117-120