新型VLSI直流参数自动测试系统

摘要：

文中基于测试器件AD5520和测量放大器AD524,设计并实现超大规模集成电路直流参数自动测试系统,该系统具有结构紧凑,编程灵活等特点.实际应用表明,该系统自动化程度高,测试精度高,可靠性好.

关键词：直流参数测试、超大规模集成电路、复杂可编程逻辑器件

分类号：TM93

在线出版日期：2006-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：15-16