继电器触点冷镦成形过程的有限元分析

摘要：

研究了AgSnO2类材料单体触点在镦制过程中的开裂问题,并将银丝材料拉伸试验曲线转化成真应力、 应变数据,拟合得到银丝材料流变应力数学模型.应用有限元方法,模拟了银单体触点的冷镦成形过程,得到了冷镦成形过程中的等效应变、应力分布情况.研究结果表明,拉应力越靠近外层越大,而径向压应力则越靠近外层越小,变形物体的单位压力从外向内逐渐增大,因此,触点最大直径处为易开裂位置.此外,准确预测了成形过程中材料产生裂纹缺陷的位置及裂纹程度,当变形达到材料Damage值时,裂纹开始形成,Damage值随变形程度的增加而上升.通过试验,对开裂模拟结果进行了验证,模拟结果与试验吻合较好.

关键词：继电器、银丝材料、银单体触点、冷镦成形、有限元、裂纹

所属期刊栏目：42

分类号：TG38(金属压力加工)

资助基金：国家自然科学基金资助项目 51471027

在线出版日期：2017-12-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：6-11