继电器贮存可靠性分析和加速退化试验综述

摘要：

继电器应用十分广泛,研究其可靠性具有重要的意义.继电器的贮存可靠性评估和寿命预测是继电器可靠性研究的重要内容.简述了继电器在长期贮存情况下的失效机理,分析了各种环境应力对继电器贮存可靠性的影响和失效机理.介绍了目前应用的几种继电器可靠性评估的方法:遗传神经网络模型、Bayes法等,并对这些可靠性评估方法进行了分析描述;概述了加速退化试验方法和灰色理论模型在继电器寿命预测领域的应用,分析了各方法的优缺点.最后,对于高可靠性的继电器产品如何进行加速退化试验和寿命预测领域的研究进行了展望.

关键词：继电器;失效机理;加速退化试验;寿命预测

分类号：TM58(电器)

资助基金：国家自然科学基金;国防基础科研计划稳定支持专题项目;江苏省研究生科研与实践创新计划资助项目

在线出版日期：2022-03-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1-6