继电器贮存可靠性评估与寿命试验方法综述

摘要：

继电器的贮存可靠性评估与贮存寿命预测是研究继电器可靠性的重要内容.从工艺因素、环境因素、失效机理与失效模式等方面分析了继电器的贮存失效原因;介绍了基于贝叶斯法、基于威布尔分布法以及基于性能退化模型的可靠性评估方法,分析了不同贮存可靠性评估法的优缺点以及适用范围;概述了基于加速贮存试验的继电器贮存寿命预测方法,得出参考多方面的故障因素能够提高试验的准确性;总结了对贮存寿命预测的不足及今后的研究方向.

关键词：继电器、可靠性评估、贮存寿命、加速贮存试验

分类号：TM581.3(电器)

资助基金：国家自然科学基金项目;国防基础科研计划稳定支持专题项目;江苏省研究生科研与实践创新计划资助项目

在线出版日期：2021-01-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

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