JTUIS超声成像无损检测系统研究进展

摘要：

JTUIS超声成像无损检测系统在传统超声探伤基础上,结合计算机技术、图像处理技术等实现了对触头焊接质量进行检测,并可以进行定性、定量的分析.简要介绍了JTUIS-Ⅲ、Ⅳ、Ⅳ+、Va,从硬件、软件两方面简要叙述了系统的研究进展及所取得的成果,包括系统集成度的提高、信号处理以及图像处理方法的改进、系统软件的扩充与优化等.试验以及实际应用表明,改进系统检测的稳定性、可靠性和重复性都得到实质性的提高.

关键词：超声成像、无损检测、钎焊、电触头

分类号：TM503+.5(电器)

在线出版日期：2014-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：20-22