基于Patran密封继电器的微粒碰撞噪声检测极限冲击试验条件研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1001-5531.2014.11.002

基于Patran密封继电器的微粒碰撞噪声检测极限冲击试验条件研究

引用
在针对微粒碰撞噪声检测(PIND)试验中,过大的冲击强度会使继电器内部组件发生疲劳损伤和塑性变形,降低器件可靠性.分析了过量冲击试验使密封继电器失效的机理,提出了极限冲击条件的力学判定方法.采用有限元软件Patran仿真分析内部各组件在不同冲击激励下的力学响应规律,研究了密封继电器PIND极限冲击条件.试验证明了所得极限冲击试验条件的有效性和实用性.

PIND、密封继电器、极限冲击试验条件、有限元、Patran

TM58(电器)

国家自然科学基金项目51077022,61271347

2014-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

7-11,48

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

低压电器

1001-5531

31-1419/TM

2014,(11)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn