基于Labview的四探针法和卡文迪许扭秤测量半导体薄层电阻综合性实验设计

摘要：

设计了"基于四探针法和卡文迪许扭秤"测量半导体薄层电阻(或电阻率)的实验装置,该装置可通过"扭秤"完成微小电流(或电压)的测量,继而通过相关公式,得到待测样品的电阻(或电阻率).为了实现测量的自动化,该装置采用Labview编程.

关键词：四探针、卡文迪许扭秤、Labview

所属期刊栏目：35

分类号：O4-33

资助基金：华中师范大学校级教学研究项目;华中师范大学中央高校基本科研业务费专项;湖北省高等学校实验室研究项目

在线出版日期：2022-08-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：74-78