CIE色度学系统在微弧氧化热控涂层中的应用

摘要：

微弧氧化着色技术可赋予镁锂合金的陶瓷涂层特定的色调、吸收率和发射率.本文基于CIE色度学系统,利用Lambda950紫外-可见-近红外分光光度计测量物体的反射率;再运用Matlab软件量化物体颜色的参数指标,包括1931CIE色度坐标、明度L*、色度a*、b*、色差ΔE*及对应的1931CIE色品图和反射率曲线.结果表明:运用色度学原理,可以定量、客观地描述微弧氧化热控涂层的颜色,进而建立色调和热控性能的联系,该技术可用于评价涂层的热控性能.

关键词：色度学、色坐标、微弧氧化、吸收率、发射率

所属期刊栏目：35

分类号：O469(真空电子学（电子物理学）)

资助基金：国家自然科学基金;兴辽英才计划青年拔尖人才项目;辽宁省百千万人才工程资助的课题;大连市科技创新基金项目

在线出版日期：2022-08-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1-6