组合光学法测量物体微小长度变化

摘要：

装置运用平面反射和夫琅禾费单缝衍射规律,以波长为650 nm的半导体激光器为工作光源,入射光经可转动的平面镜发生反射,再通过夫琅禾费单缝发生衍射.被测材料发生微小长度变化时,平面镜被推动,从而转过微小角度θ,反射光线相应地转过2θ,实现了对微小长度变化量的第一次放大.反射光线通过夫琅禾费单缝产生衍射,衍射条纹线性放大了反射光线的位置变化,实现了对微小长度变化量的第二次放大.用光强分布测定仪对衍射条纹的位置进行精细测量,就可以得到被测材料长度的微小变化量.

关键词：精细测量、平面反射、单缝衍射、微小长度变化

所属期刊栏目：33

分类号：G642.0(高等教育)

资助基金：中国高等教育学会高等教育科学研究"十三五"规划课题2018年度工程教育专项课题2018GCLYB11

在线出版日期：2020-09-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：8-14