测量I-V特性分析阻变存储器的导电机制
介绍了阻变存储器及其I-V特性的测试分析方法。通过测量三明治结构的阻变存储器的I-V特性,采用多种拟合方法,与导电机制原理对比,可以判断器件的导电机制,便于深入分析阻变机理。
电致阻变、I-V特性、导电机制
29
O431(光学)
国家星火计划2015GA780058;广东高校青年人才创新计划2014KQNCX188;岭南师范学院博士专项ZL1503
2016-09-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
21-22,28
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电致阻变、I-V特性、导电机制
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O431(光学)
国家星火计划2015GA780058;广东高校青年人才创新计划2014KQNCX188;岭南师范学院博士专项ZL1503
2016-09-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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