10.14139/j.cnki.cn22-1228.2015.004.004
微尺度单晶碎屑θ单动XRD分析
对研磨不充分的硅单晶碎屑进行θ单动XRD实验,得到无规的衍射图像。根据碎屑的SEM扫描图像和进一步模型分析,给实验结果定性解释:碎屑颗粒较大且大小不均匀导致的微取向不均匀,使得衍射强度随θ角度变化剧烈。
硅单晶碎屑、XRD、SEM
O4-34
国家自然科学基金11304385;国防科学技术大学预研项目JC13-02-12
2015-09-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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