热像法研究基底材料与薄膜的发射率变化关系

摘要：

介绍了镀膜技术和红外热像仪测量镀膜材料发射率的方法,并利用红外热像法分析了基底材料对薄膜发射率的影响。通过实验研究了镀膜时间与膜厚度变化导致的测量波段发射率的变化关系。

关键词：发射率、基底材料、镀膜仪、红外热像仪

所属期刊栏目：24

分类号：O484.41(固体物理学)

资助基金：浙江大学2011年度本科教学方法改革研究立项课题sy-1

在线出版日期：2012-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：22-25