铁电薄膜性能测量实验
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10.3969/j.issn.1007-2934.2008.04.002

铁电薄膜性能测量实验

引用
利用铁电性能综合测试系统测量了SrBi2Ta2O9薄膜的铁电性能,分析了电压变化对于电滞回线的影响,同时对疲劳行为进行了研究.

铁电薄膜、电滞回线、疲劳

21

O484.5(固体物理学)

2009-03-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

6-8

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大学物理实验

1007-2934

22-1228/O4

21

2008,21(4)

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