用干涉条纹重迭法测量晶体双折射率差

摘要：

本文介绍用干涉条纹的重叠法测量晶体双折射的过程.此方法是在D.F.Heller先生的基础上,用干涉条纹取代光机的Talbot像,主要优点是条纹的对比度好.

关键词：莫尔条纹、Talbot像、干涉条纹、晶体双折射、重迭法

所属期刊栏目：16

分类号：O436(光学)

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：23-26