低相位噪声测量

摘要：

本文从相位噪声的概念和定义出发,提出对低相噪晶体振荡器进行测量的方法,结合HP3048A相位噪声测试系统测试原理给出三种测试方案,其中第三种方案利用自己设计的系列石英压控晶体振荡器(VCXO)作为参考信号与待测晶体振荡器进行相位零拍,测试的结果其实是二者相位噪声叠加之和.通过对几种测试方案测量结果的比较,我们所设计的方案提高了测量精度,比较真实地反映了待测对象的实际水平.

关键词：频率稳定度、相位噪声、相位零拍

分类号：TN91

在线出版日期：2007-07-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：32-36