用金相显微镜测量双金属线铜层及镀层厚度

摘要：

阐述了在金相显微镜中测量双金属线铜层及镀层厚度的方法.介绍了金相显微镜的选用、测量装置的组成、测微尺的标定及测量方法、待检试样的制备技术以及影响测量精度的因素.

关键词：双金属线、铜层厚度、镀层厚度、金相显微镜、测量

分类号：TM244.1(电工材料)

在线出版日期：2015-01-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：8-11